分光干涉式激光位移计

产品阵容

SI-T 系列 - 分光干涉位移型多层膜厚测量仪

实行多层住宅膜厚, 选用近红外光・不会有为害, 实时路况迅雷在线论文检测,瞬间1000次的抽样规律,为之前膜厚衡量仪的提拱新的可以性。

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SI-F 系列 - 微型传感头型分光干涉式 激光位移计

领域超细节型感知器头，过高计算精度，处理好了预置電子零配件感知次的升温困难，也不会受磁感应噪声污染会影响。

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SI-F80R 系列 - 分光干涉式晶片厚度计

用到近红外 SLD，哪怕已贴附 BG 带也可自动校正晶片本质的厚薄。哪怕晶片外壁发生可能图案设计而产生的显著性一定的差异，也可保持精确性的产生线上推广自动校正。

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