白光干涉位移传感器

白炽干扰位移计（3D）是向侧量方法空间以“面”使用光的位移计。近乎不在工件的所选材质及本色的后果而于面的光展开同轴侧量方法，所以不发生了因挟窄所在位置或带槽边沿等精致模样遮住射线光的的情况。能够让用：宽度资讯展开：宽度差、：宽度、方向、大小、不光滑度、白皙度等各个侧量方法。

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产品阵容

WI-5000 系列 - 干涉式同轴 3D 位移测量仪

用于亮光干涉仪关键技术，可实现目标速度、高高画质的3D侧量。支持软件从较高差/占地侧量等的侧量到长宽比/范围等多种多样侧量。

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